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西安千月電子科技有限公司通過整合省內(nèi)外高校、研究所及相關(guān)企業(yè)測試資源，建設(shè)了測試服務(wù)平臺，具備材料組分、結(jié)構(gòu)、表面形貌、電學(xué)特性及可靠性測試能力。公司具有多名材料及半導(dǎo)體背景的資深技術(shù)人員，可為您提供一對一的測試及分析服務(wù)，為您科研提供有力支持。同時更歡迎科研人才，有識之士加入千月團隊！
測試服務(wù):
高分辨透射電子顯微鏡（TEM）
JEM-3010
掃描電鏡 SEM
zeiss SIGMA 500
JEM-6700F
FEI Quanta-450-FEG+X-MAX50
S3400N
原子力顯微鏡(AFM)
Veece nanoscope Ⅲ A型
超聲波掃描（SAM）
Sonoscan D24
X射線衍射儀 XRD
XRD-7000
X'Pert Pro
日本理學(xué)Dmax-Rapid II
X射線光電子能譜儀(XPS）
AXIS ULTRA
X射線檢測（X-Ray）
Phoenix MICROME|X 180T
激光拉曼光譜儀
Renishaw inVia Reflex
傅立葉變換紅外光譜儀
JOEL FTIR8400
穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀
FLS980
PL熒光光譜量測系統(tǒng)
S301-058/059
PL映射系統(tǒng)PL MAPPING SYSTEM
Platom RPM blue
靜電衰減測試儀
JCI155v6
介電阻抗譜測試
Novocontrol GmbH Concept 40
步入式現(xiàn)場環(huán)境模擬系統(tǒng)(恒溫恒濕環(huán)境)
X-73
高低溫沖擊試驗箱
ETH80-40A
電阻率測試儀
NIPPON
膜厚測試儀
橢偏儀
C-V測試
420S
B1500
探針臺
EB12/PSM1000
EPS 150TRIAX
激光共聚焦
OLS4100
綜合物性測量
VersaLab
ECV
EP-RE-0051
顆粒儀(自動光學(xué)檢查系統(tǒng))
nSpec
可見分光光度計
CARY 5000
紫外可見分光光度計
Lambda950
臺階儀
布魯克 Dektak XT
A-Step膜厚段差測量儀
Dektak150
EL量測試系統(tǒng)
ELV1-MP3
金相顯微鏡
BX51M
HALL載流子濃度測試儀
HL5500PC
